镀层测厚仪的测试方法

镀层测厚仪的测试方法主要分为无损测量法（工业主流）和有损测量法（实验室辅助）两大类，核心常用方法及细节如下，贴合现有技术资料且补充完整：

一、无损测量法（优先推荐，不损伤样品）

1. 磁感应法（现有资料核心方法）

• 核心原理：利用探头磁铁与铁磁质基材（钢、铁等）的磁通 / 磁阻变化推算厚度，非磁性覆盖层阻碍磁路导通，厚度与磁通量呈负相关，通过感应电动势计算厚度。

• 适用场景：钢、铁等铁磁质基材上的非磁性覆盖层（镀锌、镀铜、油漆、搪瓷等），符合 ISO 2178 标准。

• 特点：操作简便、成本低，适合现场批量检测；仅适配铁磁质基材，无法测多层镀层。

2. 电涡流法（现有资料核心方法）

• 核心原理：高频交流信号使探头产生电磁场，靠近导电基材时形成涡流，涡流强度与覆盖层厚度呈固定比例，通过检测涡流变化反向推算厚度。

• 适用场景：铜、铝等非铁磁质导电基材上的非导电覆盖层（阳极氧化膜、塑料层等），符合 ISO 2360 标准。

• 特点：便携性佳、弥补磁感应法基材局限；受基材电导率影响，无法测磁性覆盖层。

3. X 射线荧光法（现有资料提及，补充细节）

• 核心原理：利用 X 射线激发镀层原子产生特征荧光 X 射线，通过荧光强度（遵循朗伯 - 比尔定律）反推镀层厚度，可区分多层镀层元素信号并分别计算厚度。

• 适用场景：几乎所有金属镀层（金、银、镍等），支持多层 / 合金镀层，适配任意基材（含塑料、陶瓷），适合纳米级薄层检测。

• 特点：高精度（±0.01μm~±0.1μm）、非接触无损；设备成本高、有辐射，需专业资质操作，符合 GB 18871-2002 标准。

4. 其他常用无损方法

• 磁测 + 涡流二合一法：集成两种探头，自动识别基材类型切换模式，通用性强，适合多材质批量检测。

• 光学干涉法：基于光的干涉现象，通过干涉条纹间距计算厚度，精度达 nm 级，仅适用于透明 / 半透明镀层（如光学薄膜）。

• 超声波法：利用超声波在镀层与基材界面的反射时间差计算厚度，适合厚镀层（如橡胶、陶瓷喷涂层）。

二、有损测量法（实验室校准 / 抽样检测，损伤样品）

• 金相显微镜法：切割、打磨、抛光样品后，通过显微镜观察镀层横截面并测量厚度，可观察镀层与基材结合状态。

• 阳极溶解库仑法：将样品作为阳极浸入电解液，通恒定电流溶解镀层，根据电解时间与电流计算厚度。

• 化学法：包括点滴法、溶解称重法等，通过化学试剂溶解镀层，结合反应时间或重量变化推算厚度。

• 机械法：如楔切法、厚度差测量法，通过机械方式剥离或测量镀层前后厚度差获取结果。