1

型号

EDX2000A

2

照射方式

垂直从上至下照式光学系统

3

外型尺寸及重量

485mm×588mm×505mm；60kg

4

样品腔尺寸

430mm×400mm×140mm

5

分析方法

能量色散 X 荧光分析方法

6

测量元素范围

原子序数为 19～92【钾（K）到铀（U）】之间的元素均可测量

7

同时检测镀层及元素

可同时分析元素至少二十多个元素；可测试含底材五层镀层，最上层镀层精度＜5%

8

厚度检测范围

分析镀层厚度一般在0~100 μm 以内（每种材质有所不同）

9

含量范围

0.01～99.99%

10

检测时间

5-30 秒

11

检测对象

固体、液体及粉末

12

探测器

电制冷半导体探测器

13

光管

高功率 W 靶光管

14

高压单元

50KV/1000uA 大功率高压电源

15

准直器

标配Φ0.3mm(可定制Φ0.2mm 和其他规格）

16

样品平台

自动化 X/Y/Z 轴移动平台，平台移动范围 100×100mm，单向定位精度0.01mm

17

样品观察

高清彩色 CCD 摄像头；明暗度对比度可调，带有经过校正的刻度和测量点指示的十字线

18

样品对焦

双激光定位装置，高度激光配合变焦摄像头对焦，图像可放大倍数20x-160x

19

信噪比增强器

有效提高仪器信号处理能力 25 倍以上，让金属元素的测量更精确

20

数据传输

采用网口传输数据，保证数据准确高速有效的传输