天瑞 EDX600PLUS 是一款下照式、微聚焦、高精度的 X 射线荧光镀层测厚仪，主打微小样品、多层镀层与异型面的快速无损检测，核心优势是0.1mm 微光斑、5 层镀层同时测、10 秒级出结果
定位：工业级镀层厚度与成分分析仪，面向电镀、化镀、热镀、五金、电子、光伏、贵金属等行业
原理：能量色散 X 射线荧光（EDXRF），下照式光路，X 射线激发样品产生特征荧光，经探测器解析，计算镀层厚度与元素含量
优势：无需液氮、无需制样、一键全自动、无损快速
X 光管：100W 高功率微聚焦 W 靶光管，微焦斑设计，信号强、稳定性高
高压单元：进口大功率高压电源，保障输出效率
准直器：四种微孔聚焦准直器自动切换，最小0.1×0.2mm/Φ0.15mm，最小光斑0.1mm，最小测量面积0.03mm²（延长时间可达 0.01mm²）
探测器：大面积高分辨率FAST‑SDD 硅漂移探测器（Be 窗，25mm²）。
能量分辨率：135–140eV，元素解析能力强，降低干扰
多道分析器：DMCA 数字多道，4096 道，数据精度高
三维移动平台：精密 XY 轴 + Z 轴自动对焦，重复定位精度 **<0.005mm**。
双高清摄像头：全景 + 局部，图像放大30 倍，可视化选点
激光定位 + 距离补正：支持凹凸、螺纹、曲面、深槽等异型样品检测，变焦范围0–30mm
防撞保护：双重机械 + 软件保护，自动防撞
| 参数 | 规格 |
|---|---|
| 分析元素 | S（硫）～U（铀）/ Al～U |
| 同时检测 | 最多24–30 种元素，5 层镀层 |
| 含量范围 | 2ppm～99.9% |
| 厚度范围 | 一般 **≤50μm**（不同材料有差异） |
| 检出限 | 金属镀层最薄0.0025–0.005μm |
| 厚度精度 | RSD<3%–5% |
| 含量精度 | <0.5% |
| 重复性 | ≤1% |
| 检测时间 | 5–40 秒（常规 10 秒内出结果） |
| 工作环境 | 15–30℃，220V±5V AC |
| 尺寸 / 重量 | 576×495×545mm / 90kg |
EFP 算法：在 FP/EC 基础上迭代，适配多层、重复元素、合金镀层，标样需求少。
基体效应校正：独立模型 + 多变量非线性回归，提升复杂样品准确性。
全自动操作：开机自检、开盖退台、关盖对焦、点击选点、一键测试、自动报告
实时监控：硬件状态、剂量、温度、高压全程可视化。
电子元器件：PCB、连接器、引脚、IC 引脚镀层（Au、Ni、Pd、Sn 等）。
五金卫浴：水龙头、阀门、装饰件（Cr、Ni、Cu、Zn 等）。
贵金属：珠宝、触点、电镀金 / 银 / 铂 / 钯厚度与纯度。
光伏 / 新能源：电池片、电极、导电膜。
深槽 / 异型件：螺纹、盲孔、曲面、微小精密件。
探测器：SDD（140eV） vs Si‑Pin（更低分辨率）。
光斑：最小0.1mm vs 更大光斑。
准直器：更小孔径、自动切换。
算法：EFP 多层镀层专用算法。
异型适配：变焦 + 距离补正，支持深槽 / 曲面。
